二次諧波探測係統(SHG)
1. 二次諧波係統功能
二次諧波(SHG)表界麵探測係統主要用於材料表界麵包括氣液界麵、氣固界麵、液液界麵、液固界麵等分子結構取向分析、分子吸附過程及化學動力學過程研究。通過界麵的二次諧波信號的變化能夠表征物質在界麵的行為特征。SHG方法能夠定量的分析表麵覆蓋度和表麵單層分子的取向。二次諧波技術不僅能對平界麵上的分子行為給出其相應的信息,後續也將二次諧波技術發展到了彎曲界麵上,研究通過二次諧波技術來表征膠體界麵,對界麵的膠體化學的發展起到了深遠的影響。
二次諧波係統示意圖及實物圖


 

2.1 二次諧波平界麵探測示意圖及實物圖

 
 
圖1. 二次諧波表界麵探測係統的光路布局
 
1. 二次諧波彎曲界麵探測示意圖及實物圖


 
圖2. 二次諧波表界麵探測係統彎曲界麵探測光路示意圖。
 
1:激光入射方向;2:半波片;3:高通濾波片;4:聚焦透鏡;
5:電控旋轉台;6:樣品位置;7:旋轉臂;8:聚焦透鏡;9:低通濾波片;
10:帶通濾波片;11:透鏡組;12:格蘭棱鏡;13:光纖接入器;
14:光纖;15:光電倍增管;16:單光子計數係統;17:計算機

 

 
圖3. 二次諧波表界麵探測係統彎曲界麵探測光路布局
1. 二次諧波係統主要組成部件
二次諧波係統主要部件包括:

泵浦源振蕩級激光器可諧調波長範圍700nm-1000nm)、光路準直係統能量衰減係統平行光轉化和光束純化係統二維樣品台入射光和倍頻光偏振角度控製裝置信號采集係統單色儀選光,CCDPMT采集信號)。

文獻

資料

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